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    X射線衍射技術的原理和應用介紹

    更新日期: 2022-10-17
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    X射線衍射技術(X-ray diffraction,XRD)是指通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。工作原理:將單色X射線照到晶體樣品上,若其中一個晶粒的一組晶面取向和入射X射線夾角為θ時,滿足衍射條件,則在衍射角2θ處產生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用X射線衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉,接收到粉晶中不同網面、不同取向的全部衍射線,獲得相應的衍射圖譜。

    X射線衍射技術應用:

    (1)當材料由多種結晶成分組成,需區分各成分所占比例,可使用XRD物相鑒定功能,分析各結晶相的比例。

    (2)很多材料的性能由結晶程度決定,可使用XRD結晶度分析,確定材料的結晶程度。

    (3)新材料開發需要充分了解材料的晶格參數,使用XRD可快捷測試出點陣參數,為新材料開發應用提供性能驗證指標。

    (4)產品在使用過程中出現斷裂、變形等失效現象,可能涉及微觀應力方面影響,使用XRD可以快捷測定微觀應力。

    (5)納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

     

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